Rivoluzione nella microscopia a forza atomica grazie all’intelligenza artificiale La microscopia a forza atomica (AFM) è una tecnica fondamentale per l’analisi dei materiali a livello nanometrico, utilizzata in diversi campi della scienza e dell’ingegneria. Tuttavia, la sua precisione è limitata dalle dimensioni della punta del microscopio. Un team di ricercatori dell’Università dell’Illinois Urbana-Champaign ha sviluppato […]
